Для оптического модуля 5G / дата-центра существует три испытания:
1.Высокая скорость передачи данных оптического модуля от 10g до 25G, замена электрической микросхемы оптического модуля. Увеличение высокочастотного сигнала, особенно на большие расстояния, должно увеличить обработку чипа CDR. Чтобы справиться с джиттером сигнала, затуханием сигнала, измерением допуска джиттера, проверкой давления глаз на принимающей стороне, и для оптического модуля 25G введен эквалайзер приема.
2. Новый режим модуляции, более сложные должны быть проверены.
3. Баланс волоконно-оптических ресурсов, расстояния, производительности и стоимости: многие виды технологий мультиплексирования в сети 5G. Включая использование белой оптической ленты PON, чтобы максимально сэкономить на переднем передающем волокне, использование технологии разделения по длине волны.
Технологию WDM, применяемую в оптической несущей 5G, можно разделить на грубое мультиплексирование с разделением по длине волны, мультиплексирование со средним разделением по длине волны, мультиплексирование с тонким разделением по длине волны и мультиплексирование с плотным разделением по длине волны.
В грубом делении длины волны есть шесть длин волн, а число длин волн в делении средней длины волны и плотном делении длины волны удвоится. Максимальная длина волны DWDM составляет 40, а интервал длин волн составляет от 20 нм до 0,4 нм.
Применение WDM в несущей сети 5G требует тестирования CWDM / DWDM в оптическом модуле. Есть два способа. Первый - это сканирование длины волны, в котором будут использованы широкополосный источник света и спектрометр, а в другом случае будет использоваться регулируемый лазерный источник и оптическое микро-зеркало или в сочетании с поляризационным синтезатором для тестирования. Разница между этими двумя методами заключается в том, что спектрометр охватывает широкий диапазон длин волн. Но недостатки очевидны, скорость тестирования низкая, эффективность не высокая, а полнота теста недостаточна. Поэтому многие из них будут использовать регулируемый лазерный источник и тест сканирования оптического микрозеркала.
